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高低溫試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)
點(diǎn)擊次數(shù): 發(fā)布時(shí)間:2017-11-29

  目前我國(guó)已經(jīng)發(fā)布了2017年第一批國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃通知,在標(biāo)準(zhǔn)的通知中提到將會(huì)制定設(shè)備效能的檢測(cè)方法。那么高低溫試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)有哪些呢?
 

高低溫試驗(yàn)機(jī)

  高低溫試驗(yàn)機(jī)可以滿(mǎn)足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的有:GB 10589-2008 《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB 10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》、GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》、GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變?cè)囼?yàn)方法》、GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》、GB2423.22-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》、GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》、GB2423.3-2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》、GB2423.4-93試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》等標(biāo)準(zhǔn)。還有GB/T2423.2. IEC 60068-2-2,IEIA 364以及 MIL-STD-810F等標(biāo)準(zhǔn)可做試驗(yàn)。

  國(guó)內(nèi)有一家叫上海林頻儀器股份有限公司是一家高新技術(shù)企業(yè),多年來(lái)專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)研究各類(lèi)可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,得到了許多國(guó)內(nèi)和國(guó)外廠(chǎng)商的信賴(lài)與支持。

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